浪湧電流測試設備

DETAIL
Hollander Research設計製造的浪湧電流測試設備是一種模塊化系統,用於在高溫下測試具有高幅值和短脈衝持續時間的浪湧電流的功率半導體。
該系統有助於在極端測試條件下測試碳化矽 (SiC) 功率半導體。 強大的電子設備會產生數百安培的半正弦波形浪湧電流。 專用機械系統以高精度定位被測設備 (DUT),而驅動機構的操作員移動很簡單。 2 µs 的短脈衝長度確保了測試期間穩定的結溫,可以安全地施加遠超過標稱電流 10 倍的電流。 該測試設備能夠產生 400 A 的電流,甚至可以與面積小於 1 mm2 的裸芯片進行電接觸。 模塊化系統方法,具有可更換的插件和芯片接口,使測試設備能夠適應未來的新封裝樣式和芯片佈局。